依据标准：
IEC 61000-4-4/GB T 17626.4：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验  

脉冲群抗扰度试验，是模拟电网中众多机械开关在切换感性负载时所产生的干扰。这类干扰的特点是：成群出现的窄脉冲、脉冲的重复频率较高（kHz-MHz级）、上升沿陡峭（ns级）、单个脉冲的持续时间短暂（10-100ns级）、幅度达到kV级。成群出现的窄脉冲可对半导体器件的结电容充电，当能量积累到一定程度后可引起线路或设备出错。试验时将脉冲叠加在电源线（通过耦合/去耦网络）和通信线路（通过电容耦合夹），对设备形成干扰。

受试设备（EUT）的试验部分主要包括设备的供电电源端口、保护接地（PE）、信号和控制端口。